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LOCATION:Halle 9 - Stand 9225
SUMMARY:KI trifft Metallografie: Effiziente Mikrostrukturauswertung durch Künstliche Intelligenz
DESCRIPTION:Präsentator Jessica Schneider\nhttps://www.control-messe.de/Fachvortrag/4159-ki-trifft-metallografie--effiziente-mikrostrukturauswertung-durch-kuenstliche-intelligenz
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