Dienstag 07. Mai 2019, 13:30 bis 14:00 Uhr Halle 6 Stand 6516

Inline 3D-Mikroskpie – Inline Computational Imaging für die hochgenaue optische Inspektion

Präsentation der aktuellsten Weiterentwicklung der ICI-Technologie basierend auf Lichtfeldtechnologie bei einer Auflösung von 4µm in allen drei Dimensionen.


Referent/in:
Dr. Svorad Stolc
AIT, Wien

 

 

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