Produktneuheit 29. März 2022
Benutzerfreundliche, schnelle und automatisierte Oberflächenanalyse
3D Laserscanning-Mikroskop - Modellreihe VK-X3000
Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X3000 verwendet drei verschiedene Messprinzipien in einem Gerät vereint, je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht die Durchführung hochpräziser Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte mit einer maximalen Auflösung von 0,01 nm. Eine schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 × 50 mm, selbst bei handtellergroßen Messobjekten oder solchen mit großen Höhenunterschieden, ist möglich. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche. Auch schwierige Materialien, wie beispielsweise mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und großflächig gemessen werden. Dieses 3D Laserscanning-Mikroskop kann Messobjekte unabhängig von der Vergrößerung, Oberflächenrauheit und -beschaffenheit (transparenten/spiegelnde Oberflächen) messen.
Grundlegende Eigenschaften
- Betrachtung
Großer Vergrößerungsbereich mit nur einem System
Vergrößerung 42× bis 28.800×
Automatische Fokussierung
Betrachten beliebiger Materialien
- Messung
Schnelle, berührungslose Oberflächenerfassung
Keine Beschädigung der Messobjekte
Präzise Messung im Nanometerbereich
Für jede Form geeignet und materialunabhängig
- Analyse
Vielseitige Oberflächenanalyse
Quantifizierung der Oberflächenstruktur
Vergleich mehrerer Messobjekte
Rauheitsanalyse
Es stehen drei verschiedene Messmethoden zur Verfügung: konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie. Die Auswahl der geeigneten Messmethode für das Material und den Messbereich des Objekts gewährleistet eine hochpräzise Auswertung.
Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X3000 verwendet drei verschiedene Messprinzipien in einem Gerät vereint, je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht die Durchführung hochpräziser Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte mit einer maximalen Auflösung von 0,01 nm. Eine schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 × 50 mm, selbst bei handtellergroßen Messobjekten oder solchen mit großen Höhenunterschieden, ist möglich. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche. Auch schwierige Materialien, wie beispielsweise mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und großflächig gemessen werden. Dieses 3D Laserscanning-Mikroskop kann Messobjekte unabhängig von der Vergrößerung, Oberflächenrauheit und -beschaffenheit (transparenten/spiegelnde Oberflächen) messen.
Grundlegende Eigenschaften
- Betrachtung
Großer Vergrößerungsbereich mit nur einem System
Vergrößerung 42× bis 28.800×
Automatische Fokussierung
Betrachten beliebiger Materialien
- Messung
Schnelle, berührungslose Oberflächenerfassung
Keine Beschädigung der Messobjekte
Präzise Messung im Nanometerbereich
Für jede Form geeignet und materialunabhängig
- Analyse
Vielseitige Oberflächenanalyse
Quantifizierung der Oberflächenstruktur
Vergleich mehrerer Messobjekte
Rauheitsanalyse
Es stehen drei verschiedene Messmethoden zur Verfügung: konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie. Die Auswahl der geeigneten Messmethode für das Material und den Messbereich des Objekts gewährleistet eine hochpräzise Auswertung.
KEYENCE DEUTSCHLAND GmbH
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