Produktneuheit 11. April 2023

Leistungsstarke Lösungen für die Röntgeninspektion mit zerstörungsfreier PlanarCT Leiterplatteninspektion

Hochauflösende 160/180 kV-Mikro-/NanofokusRöntgeninspektionssysteme mit 3D-CT-Option

Die Phoenix Microme|x Neo / Nanome|x Neo Serie vereint hochauflösende 2D-Röntgentechnologie und 3D CT in einem System. Ihre innovativen und einzigartigen Eigenschaften sowie eine extrem hohe Positioniergenauigkeit machen beide Systeme zu einer effektiven und zuverlässigen Lösung für die verschiedensten 2D- und 3D-Offline-Prüfaufgaben:
Forschung und Entwicklung, Fehleranalyse, Prozess- und Qualitätskontrolle. Die x|act-Technologie bietet eine leicht zu programmierende CAD-basierte μAXI und gewährleistet eine automatische Prüfung im Mikrometerbereich. Ein weiterer
einzigartiger Vorteil ist die große Auswahl an DXR-HDDetektoren von Waygate Technologies. Es gibt definitiv den perfekten Detektor für Ihre spezielle Anwendung.


Leistungsmerkmale & Vorteile
- Überlegene Pixelauflösung (85/100 μm) – neue Detektoren eignen sich besser für die Prüfung von Halbleitern und winzigen Elektronikkomponenten
- Benutzerfreundlichkeit: automatische Erstellung eines Prüfberichts nach der Prüfung
- X|act-Paket für CAD-basierte μAXI-Programmierung und automatische Prüfung
- Diamond|window für bis zu 2-mal schnellere Datenerfassung bei gleichbleibend hoher Bildqualität
- 3D-Computertomographie-Scans innerhalb von 10 Sekunden (optional)
- Dose|manager kombiniert mit Shadow|target zum Schutz empfindlicher Geräte vor Strahlenschäden durch Reduzierung unnötig hoher Dosen
- Optische und Röntgen-Navigationskarte für schnelle Positionierung und einfache Programmierung
- Die firmeneigene OVHM-Technologie ermöglicht synchronisierte Bewegungen und eine ergonomische Einrichtung für eine einfache Konfiguration der Ansicht
- Flash!ElectronicsTM, Waygate Technolgies bisher beste Bildverarbeitungstechnologie, speziell für die Prüfung von Elektronikbauteilen optimiert