Produktneuheit 28. April 2025

Mit dem neuen 0.6X-Objektiv für seine Oberflächenprofilometer schafft Polytec einen fließenden Übergang zwischen mikro- und makroskopischer Oberflächeninspektion von Formparametern und Rauheit. Das modulare Mikroskopsystem TopMap Micro.View+ bietet neben Autofokus und automatischer Fokusverfolgung auch einen automatischen Revolver – bislang mit Vergrößerungen von 2.5X bis 111X. Nun neu ausgestattet mit 0.6x-Objektiv erweitert sich sein Einzelmessfeld auf 15.53 x 11.71 mm², womit es nicht nur Rauheit, Strukturdetails und Mikrotopografie berührungsfrei erfasst, sondern fließend auch die Ebenheit an größeren Flächen und Bauteilen schneller und effizienter misst. Mit einem Arbeitsabstand von 9.2 mm bietet es einen Messpunktabstand von 9.76 µm.

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